- فروش مواد شیمیایی
- مواد اولیه صنایع غذایی
- فروش ظروف آزمایشگاهی
- فروش تجهیزات
- مطالب مفید
- آگهی رایگان
- پیشنهادهای ویژه
- آموزش کار با سایت
- ورود به حساب کاربری
طیف سنجی الکترونی روشی است که از الکترونهای مشخصه منتشر شده از جسم جامد برای آنالیز عنصرها (نه شکل برداری مانند میکروسکوپی الکترونی) استفاده میکند. الکترونهای مشخصه (چه الکترونهای اوژه باشند یا فوتوالکترونها) با داشتن مقدار انرژی مشخص، عنصرهای شیمیایی را در نمونه های مورد آزمایش تشخیص میدهند. الکترونهای اوژه یا فوتوالکترونها تنها میتوانند از بالاترین لایه های اتمی جامد (عمق 10 نانومتر یا کمتر) فرار کنند زیرا انرژی آنها نسبتاً کم است (بیشتر بین 20 تا 2000 الکترون ولت)، درحالیکه پرتوهای ایکس مشخصه از عمق های خیلی زیادتر (چندین میکرومتر از سطح) فرار میکنند. بنابراین طیف سنجی الکترونی روشی برای آنالیز شیمیایی سطح مواد است. فوتوالکترونها (شکل الف) و الکترونهای اوژه (شکل ب) از نظر منشاء فیزیکی با یکدیگر تفاوت دارند، ولی هردو نوع الکترون اطلاعات مشابه ای از عنصرهای شیمیایی موجود درسطح مواد ارائه میدهند.
اصول پایه ای
فوتوالکترون پرتو ایکس، الکترونی است که در زمان جذب فوتون پرتو ایکس، توسط اتم از مدار الکترونی آن اتم منتشر میشود. در واقع فوتون انرژی لازم برای غلبه بر نیروی جاذبه از طرف هسته را برای الکترون فراهم می کند. شکل1- الف منتشر شدن فوتوالکترون از اتمی که تحت تأثیر فوتون پرتو ایکس قرار گرفته را به صورت طرح وار نشان میدهد. فوتون پرتو ایکس برخوردی به اتم، به اندازه کافی انرژی دارد (به اندازه مقدارhν) که بتواند الکترونی از مدار داخلی، برای مثال از مدار K، را بیرون اندازد. در این صورت، الکترون مدار K به صورت فوتوالکترون با انرژی جنشی EK از سطح مورد نظر به بیرون پرتاب میشود. با دانستن انرژی جنبشی EK، میتوان انرژی پیوند (EB) فوتوالکترون اتم را بر پایه رابطه زیر محاسبه کرد.
شکل 1- فرایندهای انتشار الکترونهای مشخصه: (الف) فوتوالکترونs1؛ و (ب) الکترون اوژه2،3L1KL.
(1) | EB= hν−EK −Φ |
Φ عامل نشاندهنده انرژی مورد نیاز برای فرار الکترون از سطح ماده، h ثابت پلانک و ν بسامد فوتون برخوردی با الکترون است. مقدارΦ به جنس ماده و دستگاه بستگی دارد و به آن تابع کار گفته میشود و برای هر ماده ای مقداری منحصربهفرد دارد. انرژی پیوند الکترونهای اتمی (EB) نیز برای هر عنصری دارای مقادیر مشخصی است.
طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، عنصرهای شیمیایی را از طیف های انرژی پیوند فوتوالکترونهای پرتو ایکس شناسایی میکند. شکل طیف این روش به صورت منحنی است که از وصل کردن نقاط نشان دهنده شدت نسبت به انرژی پیوند به دست میآید. فوتوالکترونها از مدارها اصلی و فرعی مختلفی منتشر میشوند. هر پیک انرژی پیوند، با نماد یک عنصر و نماد مداری که فوتوالکترون از آن منتشرشده، نشان داده میشود؛ برای مثال s1O،p2Al(شکل2). این طیف همچنین میتواند شامل پیکهایی از الکترونهای اوژه باشد. برای مثال، طیف نشان داده شده در شکل 2 شامل پیکهای الکترونهای اوژه با نشانه های OKLL و CKLL است که در ادامه به بررسی آنها خواهیم پرداخت.
شکل 2- طیف طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس از یک سطح آلومینیم اکسید شده
شما می توانید از خدمات آنالیز شرکت تماد کالا استفاده کنید و یا برای مشاوره رایگان با کارشناسان ما در ارتباط باشید.
https://tamadkala.com/3672-2/
https://tamadkala.com/3685-2/
سدیم استات، سدیم اتانات یا استات سدیم با فرمول شیمیایی CH3COONa، یک ترکیب بی رنگ و بی بو، محلول در آب، اتانول، متانول و هیدرازین است. این ماده یک نمک سدیمی استیک اسید است. در مقاله پیش رو به معرفی سدیم استات و کاربردهای آن میپردازیم. سدیم استات از واکنش استیک اسید و سدیم بی کربنات […]
روش و چگونگی یادگیری از اصلی ترین کارهایی است که در رشد و شکوفا شدن یک کودک است. هنگامی که یک کودک وارد فضای آموزشی میشود، روش های گوناگونی وجود دارد که کودک به ان هدف آموزشی برسد. یکی از نکاتی که شاید امروزه به آن توجه بیشتری میشود، جذب کودک است. در تمام کارهای […]
پیکنومتر وسیله ای آزمایشگاهی برای اندازه گیری چگالی مایعات با دقت بالا است. در مقاله پیش رو به معرفی ای اجمالی در مورد پیکنومتر خواهیم پرداخت و در ادامه، روش تعیین چگالی مایعات با استفاده از آن را آموزش میدهیم. فروشگاه تمادکالا این امکان را فراهم کرده است تا با خرید آنلاین پیکنومتر ، تجربه […]
درخواست آنالیز SEM آشکارساز STEM) Scanning transmission electron microscopy) در SEM: STEM یک قابلیت برای ترکیب اصول مورد استفاده در TEM و SEM است. این آشکارساز یک تکنیک معروف برای آزمایشگاههایی است که دستگاه TEM ندارند. دقت شود که آشکارساز و میکروسکوپ STEM با یکدیگر تفاوت دارند. آشکارسازهای STEM با اتصال به سیستم های SEM،FIB-SEM یا FESEM […]