- فروش مواد شیمیایی
- مواد اولیه صنایع غذایی
- فروش ظروف آزمایشگاهی
- فروش تجهیزات
- مطالب مفید
- آگهی رایگان
- پیشنهادهای ویژه
- آموزش کار با سایت
- ورود به حساب کاربری
میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی(میکروسکوپ STEM)، اصول اولیه ی میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی را با یکدیگر ترکیب میکند و میتواند قابلیتی از هر دو نوع میکروسکوپ باشد. مانند TEM، STEM به نمونههای خیلی نازک احتیاج دارد و از الکترونهای عبوری از نمونه استفاده میکند. یکی از برتریهای اصولی آن نسبت به TEM قابلیت استفاده از سیگنالهایی است که TEM توانایی استفاده از آنها را ندارد. مانند: الکترونهای ثانویه، الکترونهای بازگشتی، مشخصه یابی پرتو X و EELS)Electron Energy Loss Spectrometry )
همانند SEM در STEM یک دسته پرتوی متمرکز شده سطح را روبش میکند و فعل و انفعالات بین پرتوهای الکترونی و اتمهای نمونه، سیگنالهای مختلفی را منتشر میکند که در آن قدرت هر کدام از سیگنالها بیانگر روشنایی یا تاریک بودن آن مکان در تصویر هستند. برتری اولیه آن نسبت به SEMهای موجود، بهبود در قدرت تفکیک است.
به طور خاص STEM برای ADF(Annular Dark Field) و EELS(طیف سنجی انرژی تلفشده الکترونها) استفاده میشود. روش تصویربرداری ADF به این دلیل مهم است که عدد اتمی(Z) را نشان میدهد.
در ادامه آشکارسازهای مختلفی که در STEM استفاده میشوند، مورد بررسی قرار میگیرند:
الکترونهای بازگشتی(Scattered Beam Electrons)
در یک نمونهی بالک SEM، الکترونهایی که در اثر برخورد با هسته اتمهای نمونه، تفرق الاستیک پیدا کنند، مستقیما از نمونه باز میگردند و تشکیل سیگنال الکترونهای بازگشتی(Back Scattered Electrons) میدهند. اما در STEM بدلیل ضخامت بسیار نازک نمونه، الکترونهای پس از برخورد به نمونه، از آن عبور کرده و در یک زاویه نسبتا بزرگ تفرق پیدا میکنند این الکترونها توسط یک آشکارساز HADDF(High Angle Annular Dark Field) شناسایی میشوند. همانطور که در بالا اشاره شد، از این الکترونها برای بررسی عدد اتمی(Z) استفاده میشود.
میکروآنالیز پرتو X
الکترونهایی که نمونه را بمبباران میکنند، باعث تولید پرتو X از نمونه میشوند. میکروآنالیز پرتو X از آشکارساز EDX برای شمارش و مشخصهیابی امواج X بر اساس انرژی آنها و همچنین آشکارساز WDX برای شمارش و مشخصه یابی امواج X بر اساس طول موج آنها استفاده میکند.
طیفسنجی انرژی تلفشده الکترونها EELS )Electron Energy Loss Spectrometry)
در این روش مقدار انرژی طلف شده در فعلوانفعالات با نمونه بررسی میشود. این آشکارساز اطلاعاتی در مورد اتم های سطحی، شامل هویت عنصری، پیوندهای شیمیایی، نوار ظرفیت و رسانش، خواص الکترونیکی، خواص سطحی و … بدست میدهد.
در تصویر سمت چپ یک تصویر میدان روشن از نانولههای چند جدارهی کربنی که در جدارههای آنها ید قرارگرفته است مشاهده میشود. تصویر سمت راست آن، تصویر کنتراست عدد اتمی همان نمونه است.
منابع:
https://www.fei.com/introduction-to-electron-microscopy/stem/
z-contrast scanning transmission electron microscopy, S.J.PENNYCOOK AND P.D.NELLIST
هگزان یا هیدرید هکسیل (به انگلیسی: Hexane) یک ترکیب آلی از دسته آلکانها با شش اتم کربن است که فرمول شیمیایی آن CH3(CH2)4CH3 میباشد. در نامگذاری آیوپاک (IUPAC) نرمال هگزان به آلکان راست زنجیر بدون شاخه ای اطلاق میشود که دارای زنجیری شیش کربنه به فرمول مولکولی C6H14 باشد هگزان ماده شیمیایی است که از نفت […]
اکثر باکتریها توانایی تخمیر کربوهیدرات ها، به ویژه قندها را دارند. معمولاً هر باکتری فقط می تواند برخی از قندها را تخمیر کند. بنابراین، قندهایی که یک باکتری می تواند آنها را تخمیر کند و قندهایی که نمی تواند از ویژگی های آن باکتری است و بنابراین معیار مهمی برای شناسایی آن است. آگار سه […]
مواد شیمیایی موجود در انواع شامپوها شامپوها یکی از پرکاربردترین محصولات بهداشتی هستند که در انواع مختلفی ساخته می شوند. دلیل این همه تنوع و گوناگونی به جهت تفاوت خواص این محصولات روی مو می باشد. موضوع اصلی این است شما باید بدانید که فرمولاسیون ساخت شامپو چیست و حاوی چه موادی است. به این […]
ما در تمادکالا امیدواریم همه اعضای جامعه در طول این ایام در حال سپری کردن لحظات خوبی باشند. در این مقاله میخواهیم اطلاعاتی مفید درباره افزایش بهره وری تان در قرنطینه نوروزی ارائه کنیم. ما به عنوان ساکنان شهری که معمولا در فضاهای کوچک زندگی میکنیم، اغلب یاد می گیریم که با بی نظمی و […]