طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه را همچنین میتوان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به دست میآیند. قدرت تفکیک نقشه های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترومغناطیسی به دست میآید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده میشود، میتواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمیتواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تکرنگ کننده خاص، پرتو ایکس را میتوان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.
شکل 1 نمونه هایی از تصویرهای طیف سنجی الکترونی اوژه به دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان میدهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار میشود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان میدهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ها متمرکز شده اند. نیکل اطراف مرزدانه ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس به دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضدزنگ را نشان میدهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکلهای 1 و2 ملاحظه میشود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس ضعیفتر از تصویرهای طیف سنجی الکترونی اوژه است.
شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:
(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.
شکل 2-تصویرهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی
زیرلایه آهن ضدزنگ:(الف) تصویر فوتوالکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .
شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.
https://tamadkala.com/3672-2/
&p[summary]=<p>تصویربرداری XPS از ترکیب ها طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه را همچنین میتوان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به دست میآیند. قدرت تفکیک […]</p>
&p[url]=http://tamadkala.com/%D8%AA%D8%B5%D9%88%DB%8C%D8%B1%D8%A8%D8%B1%D8%AF%D8%A7%D8%B1%DB%8C-xps-%D8%A7%D8%B2-%D8%AA%D8%B1%DA%A9%DB%8C%D8%A8-%C2%AD%D9%87%D8%A7/&p[images][0]=https://tamadkala.com/wp-content/uploads/2017/10/sdf.jpg)
تصویربرداری XPS از ترکیب ها طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه را همچنین میتوان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به دست میآیند. قدرت تفکیک […]
کوکامیدوپروپیل بتائین (Cocamidopropyl Betaine) یا به اختصار CAPB به عنوان مهم‌ترین سورفاکتانت آمونیوم‌دار زویتریونیک (آمفوتریک) شناخته میشود. کوکامیدو پروپیل بتائین را با نام هایی نظیر کوکو آمیدو پروپیل بتائین، لوریل آمیدو پروپیل بتائین، دودکانول آمینو پروپیل دی متیل آمونیو استات و لوریل آمیدو پروپیل دی متیل آمینو استات نیز می شناسند. CAPB یک مایع شفاف و زرد کم‌رنگ با ویسکوزیته […]
کاربردهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس(XPS) الگوهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، به صورت شدت فوتوالکترون بر حسب انرژی پیوند بیان میشوند. این الگوها ممکن است دارای سه پیک در زمینه باشندکه ناشی از انتشار نور از سطوح الکترونی مرکزی، انتشار نور از سطوح ظرفیت و انتشار الکترون اوژه در اثر تحریک با پرتو ایکس […]
پیشرفت های گسترده ای در فناوری لایه های نازک روی داده است که در بخش های مختلف صنعت کاربرد گسترده ای دارد. تا به امروز روش های مختلفی برای ساخت لایه های نازک معرفی شده است که روش کندوپاش (Sputtering) یکی از انواع روش های لایه نشانی فیزیکی بخار (Physical Vapor Deposition – PVD) محسوب […]
