تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها (روش و کاربرد)

دانلود فایل PDF مقاله

تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها

طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس و طیف­ سنجی الکترونی اوژه را همچنین می­توان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه­ های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه­ های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به­ دست می­آیند. قدرت تفکیک نقشه­ های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه­ یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترو­مغناطیسی به­ دست می­آید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده می­شود، می­تواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمی­تواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف ­سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تک­رنگ کننده خاص، پرتو ایکس را می­توان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.

خدمات تخصصی آنالیز

شکل 1 نمونه­ هایی از تصویرهای طیف­ سنجی الکترونی اوژه به­ دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان می­دهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار می­شود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان می­دهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ­ها متمرکز شده­ اند. نیکل اطراف مرزدانه­ ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس به­ دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضد­زنگ را نشان می­دهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکل­های 1 و2 ملاحظه می­شود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ضعیف­تر از تصویرهای طیف ­سنجی الکترونی اوژه است.

مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.

تصویرهای طیف¬ سنجی فوتو¬الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

شکل 2-تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

زیرلایه آهن ضد­زنگ:(الف) تصویر فوتو­الکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .

 

شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.

 

کاربردهای XPS

اصول اولیه طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)

طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

به محتوای این صفحه امتیاز دهید


امتیازی ثبت نشده است.

مقاله های تمادکالا

تیتراسیون چیست

1 اردیبهشت 1399
تیتراسیون | انواع تیتراسیون

تیتراسیون یکی از فرآیندهای بسیار معروف در علم شیمی و علوم آزمایشگاهی است. در مقاله پیش رو به معرفی این فرآینده و کاربردهای آن در شیمی و علوم آزمایشگاهی خواهیم پرداخت. فرآیند تیتراسیون، تیتر کردن یا تیترامتری نیز نامیده می شود. این فرآیند برای تعیین غلظت یک محلول مجهول با روش های مختلف آزمایشگاهی است. […]

بدن انسان به دلیل برخی اتفاقات ماننده فعالیت بدنی زیاد یا عمل جراحی یا … باعث افت الکترولیت های داخل بدن می‌شود. این افت مواد مورد نیاز بدن باعث بروز مشکلات بسیار خطرناکی می‌شود؛ برای مثال کمبود یون پتاسیم در خون باعث بروز هیپوکالمی که بر روی ضربان قلب تاثیرات خطرناکی می‌گذارد. برای جایگذاری این […]

تیتراسیون معمولا در علم شیمی به کار می­رود و برای تعیین غلظت یک ماده مجهول استفاده می‌­شود. در تیتراسیون اندازه­‌گیری حجم بسیار مهم است، به همین دلیل به آن آنالیز حجمی نیز می‌­گویند. یکی از معمول­ترین آنالیزهای حجمی، تیتراسیون اسید و باز است. در این روش محلول مجهول در یک ظرف قرار دارد. سپس محلول […]

میکروسکوپ نوری قطبیده شده (Polarizing Microscope) نور از دو میدان الکتریکی و مغناطیسی عمود بر هم تشکیل شده و بطور سینوسی در حال نوسان می‌باشند. ارتعاشات میدان الکتریکی نور غیر پلاریزه در یک نقطه در همه جهات می‌باشد. در اکثر مواد وقتی یک دسته پرتو نوری به آنها وارد شود سرعت انتشار و نحوه انتشار […]

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

برخی از مشتریان تمادکالا