میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی(میکروسکوپ STEM)، اصول اولیه ی میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی را با یکدیگر ترکیب میکند و میتواند قابلیتی از هر دو نوع میکروسکوپ باشد. مانند TEM، STEM به نمونههای خیلی نازک احتیاج دارد و از الکترونهای عبوری از نمونه استفاده میکند. یکی از برتریهای اصولی آن نسبت به TEM قابلیت استفاده از سیگنالهایی است که TEM توانایی استفاده از آنها را ندارد. مانند: الکترونهای ثانویه، الکترونهای بازگشتی، مشخصه یابی پرتو X و EELS)Electron Energy Loss Spectrometry )
همانند SEM در STEM یک دسته پرتوی متمرکز شده سطح را روبش میکند و فعل و انفعالات بین پرتوهای الکترونی و اتمهای نمونه، سیگنالهای مختلفی را منتشر میکند که در آن قدرت هر کدام از سیگنالها بیانگر روشنایی یا تاریک بودن آن مکان در تصویر هستند. برتری اولیه آن نسبت به SEMهای موجود، بهبود در قدرت تفکیک است.
به طور خاص STEM برای ADF(Annular Dark Field) و EELS(طیف سنجی انرژی تلفشده الکترونها) استفاده میشود. روش تصویربرداری ADF به این دلیل مهم است که عدد اتمی(Z) را نشان میدهد.
در ادامه آشکارسازهای مختلفی که در STEM استفاده میشوند، مورد بررسی قرار میگیرند:
الکترونهای بازگشتی(Scattered Beam Electrons)
در یک نمونهی بالک SEM، الکترونهایی که در اثر برخورد با هسته اتمهای نمونه، تفرق الاستیک پیدا کنند، مستقیما از نمونه باز میگردند و تشکیل سیگنال الکترونهای بازگشتی(Back Scattered Electrons) میدهند. اما در STEM بدلیل ضخامت بسیار نازک نمونه، الکترونهای پس از برخورد به نمونه، از آن عبور کرده و در یک زاویه نسبتا بزرگ تفرق پیدا میکنند این الکترونها توسط یک آشکارساز HADDF(High Angle Annular Dark Field) شناسایی میشوند. همانطور که در بالا اشاره شد، از این الکترونها برای بررسی عدد اتمی(Z) استفاده میشود.
میکروآنالیز پرتو X
الکترونهایی که نمونه را بمبباران میکنند، باعث تولید پرتو X از نمونه میشوند. میکروآنالیز پرتو X از آشکارساز EDX برای شمارش و مشخصهیابی امواج X بر اساس انرژی آنها و همچنین آشکارساز WDX برای شمارش و مشخصه یابی امواج X بر اساس طول موج آنها استفاده میکند.
طیفسنجی انرژی تلفشده الکترونها EELS )Electron Energy Loss Spectrometry)
در این روش مقدار انرژی طلف شده در فعلوانفعالات با نمونه بررسی میشود. این آشکارساز اطلاعاتی در مورد اتم های سطحی، شامل هویت عنصری، پیوندهای شیمیایی، نوار ظرفیت و رسانش، خواص الکترونیکی، خواص سطحی و … بدست میدهد.
در تصویر سمت چپ یک تصویر میدان روشن از نانولههای چند جدارهی کربنی که در جدارههای آنها ید قرارگرفته است مشاهده میشود. تصویر سمت راست آن، تصویر کنتراست عدد اتمی همان نمونه است.
منابع:
https://www.fei.com/introduction-to-electron-microscopy/stem/
z-contrast scanning transmission electron microscopy, S.J.PENNYCOOK AND P.D.NELLIST
قیف های آزمایشگاهی انواع مختلفی دارند و در آزمایشگاه ها بسیار استفاده میشوند. بیشتر کاربرد آنها برای جمع کردن ماده ای خاص درون ظرفی دیگر است. در مقاله پیش رو قصد داریم به بررسی انواع و کاربردهای این قیف ها بپردازیم. قیف آزمایشگاهی عموما برای استفاده در آزمایشگاه های شیمی ساخته شده است. البته درحال […]
EDTA (اتیل دی آمین تترا استیک اسید) یک عامل کیلیتکننده پرکاربرد در صنایع مختلف از جمله صنایع دارویی، آرایشی بهداشتی، کاغذسازی و پالپ، غذایی، کشاورزی است که به دلیل توانایی آن در ایجاد کمپلکس با یونهای فلزی (مانند روی، آهن، مس، سرب، آرسنیک، کادمیوم، آلومینیوم و…) و جلوگیری از تأثیرات منفی آنها، مورد استفاده قرار […]
یکی از ابزارهایی که به منظور سنجش و اندازه گرفتن دما و حرارت استفاه می شود ترمومتر یا دماسنج است. که دارای انواع مختلفی بوده و ترمومتر صنعتی یکی از پرکاربردترین انواع ترمومتر است. معرفی ترمومترهای صنعتی در بیش تر فرایندها، نیاز داریم که به صورت پی در پی و مداوم، دما را مورد بررسی […]
آبکاری یکی از فرآیندهای الکتروشیمیایی بسیار مهم و پرکاربرد در صنعت است. از آبکاری میتوان در موارد بسیاری استفاده که در حال حاضر از این فرآیند بیشتر برای افزایش مقاومت و خواص سطحی مواد استفاده می شود. در آبکاری یک فلز با استفاده از فرآیند الکتروشیمیایی روی یک ماده دیگر(که کاتد است)، نشانده می شود. […]