تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها (روش و کاربرد)

دانلود فایل PDF مقاله

تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها

طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس و طیف­ سنجی الکترونی اوژه را همچنین می­توان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه­ های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه­ های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به­ دست می­آیند. قدرت تفکیک نقشه­ های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه­ یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترو­مغناطیسی به­ دست می­آید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده می­شود، می­تواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمی­تواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف ­سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تک­رنگ کننده خاص، پرتو ایکس را می­توان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.

خدمات تخصصی آنالیز

شکل 1 نمونه­ هایی از تصویرهای طیف­ سنجی الکترونی اوژه به­ دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان می­دهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار می­شود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان می­دهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ­ها متمرکز شده­ اند. نیکل اطراف مرزدانه­ ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس به­ دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضد­زنگ را نشان می­دهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکل­های 1 و2 ملاحظه می­شود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ضعیف­تر از تصویرهای طیف ­سنجی الکترونی اوژه است.

مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.

تصویرهای طیف¬ سنجی فوتو¬الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

شکل 2-تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

زیرلایه آهن ضد­زنگ:(الف) تصویر فوتو­الکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .

 

شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.

 

کاربردهای XPS

اصول اولیه طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)

طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

به محتوای این صفحه امتیاز دهید


امتیازی ثبت نشده است.

مقاله های تمادکالا

کاربرد جوهر لیمو در صنایع غذایی جوهر لیمو یکی از افزودنی های مهم غذایی است که در طیف گسترده ای از محصولات غذایی مورد استفاده قرار می گیرد. این ترکیب اسیدی با نام علمی اسیدسیتریک شناخته می شود و به صورت دانه های سفید تولید می گردد. اسیدسیتریک اسیدی ضعیف است که در صنایع غذایی […]

هیچ چکیده‌ای موجود نیست زیرا‌این یک نوشته حفاظت شده است.

اسید سولفوریک مایعی شفاف، روغنی و بی بو (میزان بو بستگی به درجه خلوص دارد) با نام های سولفات هیدروژن و جوهر گوگرد و فرمول شیمیایی H2SO4  که دارای جرم مولی 98.078 g/mol است. فروشگاه اینترنتی تمادکالا در زمینه  فروش اینترنتی اسید سولفوریک فعالیت می کند. شما می توانید برای اطلاعات بیشتر در این مقاله […]

  1- عمق میدان (Depth of field) عمق میدان فاصله‌ای است که می توان جسم را درون آن جابجا کرد، بدون آنکه چشم، تغییری در کیفیت تصویر آن تشخیص دهد و بتوان به طور همزمان تصویر واضحی از آن تهیه نمود. توضیحات تکمیلی: عمق میدان فاصله ایست که اگر جسم درون آن جابه جا شود، […]

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

برخی از مشتریان تمادکالا