تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها (روش و کاربرد)

دانلود فایل PDF مقاله

تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها

طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس و طیف­ سنجی الکترونی اوژه را همچنین می­توان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه­ های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه­ های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به­ دست می­آیند. قدرت تفکیک نقشه­ های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه­ یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترو­مغناطیسی به­ دست می­آید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده می­شود، می­تواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمی­تواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف ­سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تک­رنگ کننده خاص، پرتو ایکس را می­توان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.

خدمات تخصصی آنالیز

شکل 1 نمونه­ هایی از تصویرهای طیف­ سنجی الکترونی اوژه به­ دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان می­دهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار می­شود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان می­دهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ­ها متمرکز شده­ اند. نیکل اطراف مرزدانه­ ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس به­ دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضد­زنگ را نشان می­دهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکل­های 1 و2 ملاحظه می­شود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ضعیف­تر از تصویرهای طیف ­سنجی الکترونی اوژه است.

مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.

تصویرهای طیف¬ سنجی فوتو¬الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

شکل 2-تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

زیرلایه آهن ضد­زنگ:(الف) تصویر فوتو­الکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .

 

شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.

 

https://tamadkala.com/3672-2/

اصول اولیه طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)

طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

به محتوای این صفحه امتیاز دهید


امتیازی ثبت نشده است.

مقاله های تمادکالا

  رسوب دهی شیمیایی بخار (Chemical Vapor Deposition) از ابتدا به عنوان یک راه موثر برای ساخت طیف وسیعی از قطعات و محصولات به عنوان یک فرآیند تولید جدید در چندین بخش صنعتی شامل صنعت نیمه هادی، صنعت سرامیک و غیره توسعه داده شده است. روش فوق بر اثر تلاش زیاد محققان دانشگاهی و صنعت […]

محلول ضدعفونی کننده چند منظوره چیست؟ امروزه محلول ضدعفونی کننده از دغدغه های اصلی افراد جامعه است. گاه برای شما پیش آمده که به بانک یا بازار و جاهای شلوغی رفته اید و وقتی سوار خودرو خود می‌شوید، شیر آبی وجود ندارد که دست خود را بشورید، پس لازم است که حتما همراه خود یک […]

سیلیکاژل یا همان رطوبت گیر یکی از مواد شیمیایی می باشد که به دلیل کاربردهای بالای آن برای مصارف مختلفی استفاده می شود. مصارف و کاربرد های سیلیکاژل بسیار می باشد از این رو پس از مقاله انواع سیلیکاژل سعی کردیم به طور جداگانه به کاربرد های سیلیکاژل به پردازیم. شرکت تماد کالا با توجه به فروش […]

روش و چگونگی یادگیری از اصلی ترین کارهایی است که در رشد و شکوفا شدن یک کودک است. هنگامی که یک کودک وارد فضای آموزشی می‌شود، روش های گوناگونی وجود دارد که کودک به ان هدف آموزشی برسد. یکی از نکاتی که شاید امروزه به آن توجه بیشتری می‌شود، جذب کودک است. در تمام کارهای […]

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

برخی از مشتریان تمادکالا