آدرس: تهران - بزرگراه جناح - بلوار شهید گلاب - خیابان حسینی - کوچه رئیسی - پلاک ۷ - طبقه همکف
کد پستی: ۱۴۵۳۹۳۴۹۳۱
الگوهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، به صورت شدت فوتوالکترون بر حسب انرژی پیوند بیان میشوند. این الگوها ممکن است دارای سه پیک در زمینه باشندکه ناشی از انتشار نور از سطوح الکترونی مرکزی، انتشار نور از سطوح ظرفیت و انتشار الکترون اوژه در اثر تحریک با پرتو ایکس میباشد. شکل زیر الگوی طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس سطح نقره را نشان میدهد که درآن پیک های سطوح انرژی مرکزی، به صورتs 3،p3و d3 نشان داده شده است. پیک سطح ظرفیت بهصورت d4 و پیکهای اوژه به صورت MNN نشان داده شده اند. پیک های فوتوالکترون سطوح انرژی مرکزی، پیک های اصلی مورد استفاده برای آنالیز عنصری هستند. پیک های ظرفیت آنهایی هستند که دارای انرژی پیوند پایین (0تا 20الکترونولت) هستند و بیشتر برای مطالعه های ساختار الکترونیکی مواد مورد استفاده اند. پیک های اوژه، که از فرایند اوژه تحریک شده توسط پرتو ایکس تولید شده اند نیز برای آنالیز شیمیایی مفید هستند.
شکل 1-الگوی طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس از نقره تحریک شده با MgKαبا انرژی عبوری 100 الکترون ولت.
طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه ابزارهای قدرتمندی برای آنالیز شیمیایی سطح هستند. این روش ها میتوانند عنصرهای شیمیایی را در لایه درونی چندین نانومتری از سطح شناسایی کنند. نکته مهم این است که موقعیتهای پیک عنصرها درطیف های طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه، نسبت به موقعیت شیمیایی (پیوند شیمیایی با عناصر دیگر) آنها حساس هستند. برای مثال، موقعیت های پیک کربن در 2CO و هیدروکربن های اشباع با یکدیگر متفاوت است. این پدیده که به انتقال شیمیایی در طیف های طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه معروف است، اطلاعات اضافی برای آنالیز شیمیایی فراهم می کند. طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه همچنین میتوانند تصاویری از عمق لایه سطحی مواد حجیم را تولید و توزیع های فضایی عنصرهای مختلف درسطح مواد حجیم را آشکار کنند.
دریافت آنالیز XPS
آنالیز کیفی
شناسایی پیک طیف ها، وظیفه اصلی آنالیز کیفی است. برای مثال، از داده های شکل 8-9 میتوانیم جهت شناسایی پیک های الگوهای طیف سنجی الکترونی اوژه استفاده کنیم. انرژی پیوندی عنصرها در سطوح انرژی مرکزی منبع اصلی شناسایی پیک های طیف های طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس هستند. شناسایی پیک در طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس از اهمیت بالایی برخوردار است. علاوه بر مشخصات طیف مورد بحث در بخش قبل، سایر عوامل نظیر انتقال شیمیایی و شارژ سطحی، شناسایی پیک را پیچیده میکنند.
شناسایی پیک
شناسایی پیک درالگوهای طیف سنجی الکترونی اوژه آسان است. پیک ها در الگوی طیف سنجی الکترونی اوژه با مقایسه پیکهای تجربه شده با پیک های شاخص ذکر شده درکتابهای مرجع یا پایگاههای دادهای رایانه ای، شناسایی میشوند. ولی شناسایی پیک ها درطیف های طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس پیچیده تر است، زیرا ممکن است پیک اوژه نیز موجود باشند. معمولاً از دو منبع پرتو ایکس مختلف برای تشخیص پیک اوژه از پیکهای فوتوالکترونی، استفاده میشود. پیک اوژه انرژی جنبشی الکترون اوژه را نشان میدهد که با انرژی پرتو ایکس اولیه تغییر میکند. بنابراین، پیک اوژه در انرژی پیوند مشهود خود درالگوی طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس با تغییر منبع پرتو ایکس، جا به جا میشود. برای مثال، با تغییر تابش از MgKα (6/1253 الکترونولت) به AlKα (6/1486 الکترونولت)، پیک اوژه درطیف طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس233 الکترونولت جا به جا میشود.
https://tamadkala.com/3685-2/
 الگوهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، به صورت شدت فوتوالکترون بر حسب انرژی پیوند بیان میشوند. این الگوها ممکن است دارای سه پیک در زمینه باشندکه ناشی از انتشار نور از سطوح الکترونی مرکزی، انتشار نور از سطوح ظرفیت و انتشار الکترون اوژه در اثر تحریک با پرتو ایکس […]</p>
&p[url]=http://tamadkala.com/%DA%A9%D8%A7%D8%B1%D8%A8%D8%B1%D8%AF%D9%87%D8%A7%DB%8C-xps/&p[images][0]=https://tamadkala.com/wp-content/uploads/2017/10/kds-1.jpg)
یکی از مشکلاتی که همه ما تجربه کرده ایم، لکه یا رنگی است که به هیچ وسیله پاک نمی شود و اثر آن روی سطح باقی می ماند. برای پاک کردن اینگونه موارد می توانید از موادی مانند استون استفاده کرد. در مقاله پیش رو به معرفی استون و نحوه پاک کردن سطوح و کاربردهای […]
ماکت و آناتومی بدن انسان و کودک آناتومی بدن انسان یا کالبدشناسی یکی از علوم مرتبط با شناخت ساختار بدن انسان است. مطالعه آناتومی بدن انسان که از سلول ها شروع شده و به اندام ها می رسد، کار ساده ای نیست و نیاز به میکروسکوپ و سایر ابزارهای تخصصی دارد تا امکان مشاهده همه […]
میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی(میکروسکوپ STEM)، اصول اولیه ی میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی را با یکدیگر ترکیب میکند و می‌تواند قابلیتی از هر دو نوع میکروسکوپ باشد. مانند TEM، STEM به نمونه‌‌‌های خیلی نازک احتیاج دارد و از الکترون‌‌های عبوری از نمونه استفاده میکند. یکی از برتری‌‌‌های اصولی آن نسبت به TEM […]
آماده سازی نمونه جامد نمونه های جامد مورد استفاده در تست FTIR می توانند به دو شکل ورقه نازک یا پودر باشند. نمونه های ورقه ای بیشتر مواد پلیمری هستند. قراردادن ورقه در محلول های پلیمری متداول ترین روش است. فیلم های پلیمر هم چنین می توانند از طریق فشار دادن مکانیکی آن ها در […]
