تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها (روش و کاربرد)

دانلود فایل PDF مقاله

تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها

طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس و طیف­ سنجی الکترونی اوژه را همچنین می­توان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه­ های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه­ های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به­ دست می­آیند. قدرت تفکیک نقشه­ های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه­ یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترو­مغناطیسی به­ دست می­آید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده می­شود، می­تواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمی­تواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف ­سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تک­رنگ کننده خاص، پرتو ایکس را می­توان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.

خدمات تخصصی آنالیز

شکل 1 نمونه­ هایی از تصویرهای طیف­ سنجی الکترونی اوژه به­ دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان می­دهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار می­شود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان می­دهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ­ها متمرکز شده­ اند. نیکل اطراف مرزدانه­ ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس به­ دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضد­زنگ را نشان می­دهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکل­های 1 و2 ملاحظه می­شود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ضعیف­تر از تصویرهای طیف ­سنجی الکترونی اوژه است.

مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.

تصویرهای طیف¬ سنجی فوتو¬الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

شکل 2-تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

زیرلایه آهن ضد­زنگ:(الف) تصویر فوتو­الکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .

 

شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.

 

https://tamadkala.com/3672-2/

اصول اولیه طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)

طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

به محتوای این صفحه امتیاز دهید


امتیازی ثبت نشده است.

مقاله های تمادکالا

برای ضد عفونی کردن دست ممکن است از مواد مختلفی استفاده شود. اما پرکاربردترین آنها الکل ها هستند. در مقاله پیش رو قصد داریم توضیحات بیشتری در این باره ارائه کنیم. عمده ضدعفونی کننده های دست که در بازار یافت می شوند، بر پایه الکل هستند. الکل ها قابلیت تخریب پروتئین های ویروس، باکتری یا […]

الکترونیک چاپی، فناوری جدیدی است که با سرعت خیره کنندهای در حال توسعه است و روند تغییرات آن در سالهای اخیر بسیاری از صنعتگران و مصرف کنندگان را به آینده این فناوری امیدوار کرده است. از پیشرفتهای کثیر این فناوری می توان به پیشرفت در صنعت الکترونیک اشاره کرد، که موجب ارزان سازی، انعطاف پذیری، […]

در هر خانه‌ای این احتمال وجود دارد که گاهی روی فرش، روی مبل، روی پادری، روی پتو و … لکه‌ای بیفتد، در این حال چیزی که پر واضح است، این است که وجود آن لکه باعث جلوه نداشتن و کثیف دیده شدن فرش یا مبل و … می‌شود. خب معمولا افراد به فکر تمیز کردن […]

مقدمه: طرح اعتبار خرید مواد شیمیایی، ظروف، تجهیزات و خدمات آنالیز بدون نیاز به تسویه آنی، یکی از طرح های مصوب در شرکت توسعه مهندسی الماس واره دانش جهت کمک به پیشبرد و همچنین رفع موانع پژوهش می باشد. نتایج این طرح با توجه به مطالعه میدانی از اساتید و دانشجویان دانشگاه های مختلف در […]

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

برخی از مشتریان تمادکالا