آدرس: تهران - بزرگراه جناح - بلوار شهید گلاب - خیابان حسینی - کوچه رئیسی - پلاک ۷ - طبقه همکف
کد پستی: ۱۴۵۳۹۳۴۹۳۱
طیف سنجی الکترونی روشی است که از الکترونهای مشخصه منتشر شده از جسم جامد برای آنالیز عنصرها (نه شکل برداری مانند میکروسکوپی الکترونی) استفاده میکند. الکترونهای مشخصه (چه الکترونهای اوژه باشند یا فوتوالکترونها) با داشتن مقدار انرژی مشخص، عنصرهای شیمیایی را در نمونه های مورد آزمایش تشخیص میدهند. الکترونهای اوژه یا فوتوالکترونها تنها میتوانند از بالاترین لایه های اتمی جامد (عمق 10 نانومتر یا کمتر) فرار کنند زیرا انرژی آنها نسبتاً کم است (بیشتر بین 20 تا 2000 الکترون ولت)، درحالیکه پرتوهای ایکس مشخصه از عمق های خیلی زیادتر (چندین میکرومتر از سطح) فرار میکنند. بنابراین طیف سنجی الکترونی روشی برای آنالیز شیمیایی سطح مواد است. فوتوالکترونها (شکل الف) و الکترونهای اوژه (شکل ب) از نظر منشاء فیزیکی با یکدیگر تفاوت دارند، ولی هردو نوع الکترون اطلاعات مشابه ای از عنصرهای شیمیایی موجود درسطح مواد ارائه میدهند.
اصول پایه ای
فوتوالکترون پرتو ایکس، الکترونی است که در زمان جذب فوتون پرتو ایکس، توسط اتم از مدار الکترونی آن اتم منتشر میشود. در واقع فوتون انرژی لازم برای غلبه بر نیروی جاذبه از طرف هسته را برای الکترون فراهم می کند. شکل1- الف منتشر شدن فوتوالکترون از اتمی که تحت تأثیر فوتون پرتو ایکس قرار گرفته را به صورت طرح وار نشان میدهد. فوتون پرتو ایکس برخوردی به اتم، به اندازه کافی انرژی دارد (به اندازه مقدارhν) که بتواند الکترونی از مدار داخلی، برای مثال از مدار K، را بیرون اندازد. در این صورت، الکترون مدار K به صورت فوتوالکترون با انرژی جنشی EK از سطح مورد نظر به بیرون پرتاب میشود. با دانستن انرژی جنبشی EK، میتوان انرژی پیوند (EB) فوتوالکترون اتم را بر پایه رابطه زیر محاسبه کرد.
شکل 1- فرایندهای انتشار الکترونهای مشخصه: (الف) فوتوالکترونs1؛ و (ب) الکترون اوژه2،3L1KL.
| (1) | EB= hν−EK −Φ |
Φ عامل نشاندهنده انرژی مورد نیاز برای فرار الکترون از سطح ماده، h ثابت پلانک و ν بسامد فوتون برخوردی با الکترون است. مقدارΦ به جنس ماده و دستگاه بستگی دارد و به آن تابع کار گفته میشود و برای هر ماده ای مقداری منحصربهفرد دارد. انرژی پیوند الکترونهای اتمی (EB) نیز برای هر عنصری دارای مقادیر مشخصی است.
طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، عنصرهای شیمیایی را از طیف های انرژی پیوند فوتوالکترونهای پرتو ایکس شناسایی میکند. شکل طیف این روش به صورت منحنی است که از وصل کردن نقاط نشان دهنده شدت نسبت به انرژی پیوند به دست میآید. فوتوالکترونها از مدارها اصلی و فرعی مختلفی منتشر میشوند. هر پیک انرژی پیوند، با نماد یک عنصر و نماد مداری که فوتوالکترون از آن منتشرشده، نشان داده میشود؛ برای مثال s1O،p2Al(شکل2). این طیف همچنین میتواند شامل پیکهایی از الکترونهای اوژه باشد. برای مثال، طیف نشان داده شده در شکل 2 شامل پیکهای الکترونهای اوژه با نشانه های OKLL و CKLL است که در ادامه به بررسی آنها خواهیم پرداخت.
شکل 2- طیف طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس از یک سطح آلومینیم اکسید شده
شما می توانید از خدمات آنالیز شرکت تماد کالا استفاده کنید و یا برای مشاوره رایگان با کارشناسان ما در ارتباط باشید.
https://tamadkala.com/3672-2/
https://tamadkala.com/3685-2/
&p[summary]=<p>دانلود فایل PDF مقاله اصول اولیه طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس طیف سنجی الکترونی روشی است که از الکترونهای مشخصه منتشر شده از جسم جامد برای آنالیز عنصرها (نه شکل برداری مانند میکروسکوپی الکترونی) استفاده میکند. الکترونهای مشخصه (چه الکترونهای اوژه باشند یا فوتوالکترونها) با داشتن مقدار انرژی مشخص، عنصرهای شیمیایی را در نمونه های […]</p>
&p[url]=http://tamadkala.com/%D8%A7%D8%B5%D9%88%D9%84-%D8%A7%D9%88%D9%84%DB%8C%D9%87-%D8%B7%DB%8C%D9%81-%D8%B3%D9%86%D8%AC%DB%8C-%D9%81%D9%88%D8%AA%D9%88%D8%A7%D9%84%DA%A9%D8%AA%D8%B1%D9%88%D9%86%DB%8C-%D9%BE%D8%B1/&p[images][0]=https://tamadkala.com/wp-content/uploads/2025/05/kds.jpg)
اسید سیتریک یک ترکیب آلی با خاصیت اسیدی ضعیف با فرمول شیمیایی C6H8O7 و جرم مولی 192.027g/mol است. اسید سیتریک با نام های اسید لیمو، جوهرلیمو، سیتریک اسید، hydroxypropane ،citric acid نیز شناخته میشود. اسید سیتریک در دمای اتاق به صورت پودر کریستالی سفید وجود دارد. این اسید به صورت طبیعی در برخی میوه ها […]
فیلتر سر سرنگی چیست و چه کاربردی دارد؟ فیلتر سر سرنگی به شکل یک چرخ است، و به همین علت، گاهی اوقات فیلتر چرخی نیز نامیده می شود. این فیلترها، یکبار مصرف هستند و کارتریج فیلتر مبتنی بر فیلتراسیون با غشاء است. این فیلتر از یک سمت به سر یک سرنگ وصل میشود و از […]
درخواست آنالیز SEM آشکارساز STEM) Scanning transmission electron microscopy) در SEM: STEM یک قابلیت برای ترکیب اصول مورد استفاده در TEM و SEM است. این آشکارساز یک تکنیک معروف برای آزمایشگاههایی است که دستگاه TEM ندارند. دقت شود که آشکارساز و میکروسکوپ STEM با یکدیگر تفاوت دارند. آشکارسازهای STEM با اتصال به سیستم های SEM،FIB-SEM یا FESEM […]
ویسکومتر چیست؟ گرانروی یا ویسکوزیته مایعات به تغییر شکل مایعات که بر اثر تنش های کششی یا برشی ایجاده شده، گفته می شود. ویسکومتر که با نام ویسکوزیمتر نیز شناخته می شود، دستگاهی است که برای اندازه گیری گرانروی مایعات از آن استفاده می شود. برای اندازه گیری ویسکوزیته مایعات دستگاه ویسکومتر از یکی از […]
