دانلود فایل PDF مقاله

درخواست آنالیز SEM

آشکارساز STEM) Scanning transmission electron microscopy) در SEM:

STEM یک قابلیت برای ترکیب اصول مورد استفاده در TEM و SEM است. این آشکارساز یک تکنیک معروف برای آزمایشگاه‌هایی است که دستگاه TEM ندارند. دقت شود که آشکارساز و میکروسکوپ STEM با یکدیگر تفاوت دارند.

آشکارسازهای STEM با اتصال به سیستم های SEM،FIB-SEM یا FESEM امکان ارائه‌ی اطلاعات منحصر‌به‌فردی که توسط TEMها فراهم می‌شوند را در اختیار میگذارد و قابلیت‌های تصویربرداری و قدرت آنالیزی این سیستم ها را گسترش می‌دهند. نمونه‌هایی که با این روش آنالیز می‌شوند باید به شکل یه لامل نازک با قطر کمتر از 100 نانومتر آماده شوند. این تکنیک می‌تواند با آنالیزهای عنصری مانند EDX ترکیب شود تا میکروآنالیزهای با رزولوشن بالا را برای نمونه فراهم کند. لازم به ذکر است آشکارساز STEM با میکروسکوپ STEM دو مفهوم جداگانه هستند.

با استفاده از الکترون‌های عبوری متفرق شده در زوایای مختلف در نمونه های SEM، می توان اطلاعات مختلفی از نمونه را بدست آورد. زوایای پراکندگی الکترون ها به جنس نمونه، قطر لامل و انرژی پرتو بستگی دارد.

در ادامه این سیگنال‌ها بررسی می شوند:

• تصویر میدان روشن: از سیگنال BF(Bright Field) معمولا برای بررسی کنتراست جهت گیری پراش و همچنن بررسی کنتراست جذبی استفاده می شود.
• میدان تاریک: از سیگنال DF(Dark Field) برا بررسی کنتراست جهت‌گیری نسبی و کنتراست مواد در عناصر سبک استفاده می‌شود.
• میدان تاریک با زاویه بالا: از سیگنال HADF(High Angle Dark Field) می توان بیشترین اطلاعات در مورد کنتراست ماده را بدست آورد.

کاربردها: این آشکارساز امکان بررسی ریزساختار در نمونه‌های زیستی، آنالیز شکست در نیمه‌رسانا‌ها و مشخصه‌یابی مواد را در اختیار می‌گذارد.

منبع:

http://www.tescan.com/en-us/technology/detectors/stem-detectors

در صورتی که مایل به انجام تست SEM در تمادکالا هستید، می توانید از مشاوره رایگان استفاده کنید.

دریافت آنالیز SEM