تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها (روش و کاربرد)

دانلود فایل PDF مقاله

تصویربرداری XPS از ترکیب ­ها

طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس و طیف­ سنجی الکترونی اوژه را همچنین می­توان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه­ های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه­ های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به­ دست می­آیند. قدرت تفکیک نقشه­ های ترکیب بیشتربه قطر پرتو تابشی بستگی دارد. تصویربرداری اوژه روشی کاملاً توسعه­ یافته است، زیرا تمرکز پرتو الکترونی در آن به آسانی از طریق استفاده از عدسی الکترو­مغناطیسی به­ دست می­آید. قطر پرتو الکترونی در زمانی که از تفنگ انتشار میدانی استفاده می­شود، می­تواند به کوچکی 10 نانومتر باشد. تمرکز پرتو ایکس در طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس دشوار است، زیرا پرتو ایکس از نظر الکتریکی خنثی است و نمی­تواند با استفاده از میدان الکترومغناطیسی متمرکز شود. در ابزارهای پیشرفته طیف ­سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس، با استفاده از تفنگ خاص پرتو ایکس و بلور تک­رنگ کننده خاص، پرتو ایکس را می­توان تا قطر حدود 10میکرومتر متمرکز کرد.

خدمات تخصصی آنالیز

شکل 1 نمونه­ هایی از تصویرهای طیف­ سنجی الکترونی اوژه به­ دست آمده از سطح فولاد ضدزنگ پوشیده شده با طلا را نشان می­دهد. ساختار دانه این ماده از طریق تصویربرداری الکترونی ثانویه آشکار می­شود (شکل الف). تصویرهای اوژه، وجود آهن، اکسیژن، طلا و نیکل را روی سطح فولاد نشان می­دهند. آهن و اکسیژن روی سطح در طول مرزدانه ­ها متمرکز شده­ اند. نیکل اطراف مرزدانه­ ها پراکنده شده است. شکل2 تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس به­ دست آمده از سطح ورقه TiAlN اکسیدشده روی زیرلایه فولاد ضد­زنگ را نشان می­دهد. این ورق شامل آهنی است که از زیرلایه جداشده است. با مقایسه شکل­های 1 و2 ملاحظه می­شود قدرت تفکیک فضایی تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ضعیف­تر از تصویرهای طیف ­سنجی الکترونی اوژه است.

مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

شکل 1- مقایسه بین تصویرهای فولاد ضد زنگ پوشیده شده با طلا:

(الف) تصویر الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی؛(ب) تصویراوژه آهن؛(ج)تصویراوژه اکسیژن؛(د)تصویر اوژه طلا؛ و(و)تصویراوژه نیکل.

تصویرهای طیف¬ سنجی فوتو¬الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

شکل 2-تصویرهای طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس ورقه نازک TiAlN روی

زیرلایه آهن ضد­زنگ:(الف) تصویر فوتو­الکترونیp2Ti ؛و (ب) تصویر فوتوالکترونی p2Fe .

 

شما می توانید از مشاوره رایگان و تخصصی تماد کالا برای انواع آنالیز استفاده کنید.

 

کاربردهای XPS

اصول اولیه طیف­ سنجی فوتو­الکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)

طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

به محتوای این صفحه امتیاز دهید


امتیازی ثبت نشده است.

مقاله های تمادکالا

درخواست آنالیز SEM آشکارساز STEM) Scanning transmission electron microscopy) در SEM: STEM یک قابلیت برای ترکیب اصول مورد استفاده در TEM و SEM است. این آشکارساز یک تکنیک معروف برای آزمایشگاه‌هایی است که دستگاه TEM ندارند. دقت شود که آشکارساز و میکروسکوپ STEM با یکدیگر تفاوت دارند. آشکارسازهای STEM با اتصال به سیستم های SEM،FIB-SEM  یا  FESEM […]

محیط ‌‌های کشت محیط‌هایی هستند که برای کشت سلول‌‌ها و انواع میکروب‌‌ها مورد استفاده قرار می‌گیرند. محیط‌‌‌های کشت انواع مختلف و متفاوتی دارند که بسته به کاربرد می‌توان از هرکدام آن‌ها استفاده کرد. در مقاله پیش‌رو به معرفی انواع محیط‌‌‌های کشت و کاربرد‌‌های آن‌ها خواهیم پرداخت. فروشگاه اینترنتی تمادکالا در زمینه فروش محیط کشت با […]

دستکش لاتکس یکی از پرکاربردترین دستکش های یکبار مصرف در جهان است. در مقاله پیش رو به معرفی این دستکش و کاربردهای آن خواهیم پرداخت. لاتکس ماده ایست که از مایع یک درخت دریافت می شود. از آن برای ساخت بسیاری از دستکش های یکبار مصرف استفاده میشود. دستکش های لاتکس نیز بسته به کاربرد […]

آشنایی با محیط کشت آگار آگار به محیط کشت جامد گفته می شود که منظور از پلیت آگار، پتری دیش حاوی آگار به همراه مواد مغذی مورد نیاز برای رشد میکروارگانیسم است. در برخی موارد آنتی بیوتیک هم به محیط کشت اضافه شده تا جلوی رشد باکتری های مخرب گرفته شده و میکروارگانیسم مورد نظر […]

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

برخی از مشتریان تمادکالا