کاربردهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس(XPS) الگوهای طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، به صورت شدت فوتوالکترون بر حسب انرژی پیوند بیان میشوند. این الگوها ممکن است دارای سه پیک در زمینه باشندکه ناشی از انتشار نور از سطوح الکترونی مرکزی، انتشار نور از سطوح ظرفیت و انتشار الکترون اوژه در اثر تحریک با پرتو ایکس … ادامه خواندن کاربردهای XPS
0 دیدگاه