- فروش مواد شیمیایی
- مواد اولیه صنایع غذایی
- فروش ظروف آزمایشگاهی
- فروش تجهیزات
- مطالب مفید
- آگهی رایگان
- پیشنهادهای ویژه
- آموزش کار با سایت
- ورود به حساب کاربری
میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی(میکروسکوپ STEM)، اصول اولیه ی میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی را با یکدیگر ترکیب میکند و میتواند قابلیتی از هر دو نوع میکروسکوپ باشد. مانند TEM، STEM به نمونههای خیلی نازک احتیاج دارد و از الکترونهای عبوری از نمونه استفاده میکند. یکی از برتریهای اصولی آن نسبت به TEM قابلیت استفاده از سیگنالهایی است که TEM توانایی استفاده از آنها را ندارد. مانند: الکترونهای ثانویه، الکترونهای بازگشتی، مشخصه یابی پرتو X و EELS)Electron Energy Loss Spectrometry )
همانند SEM در STEM یک دسته پرتوی متمرکز شده سطح را روبش میکند و فعل و انفعالات بین پرتوهای الکترونی و اتمهای نمونه، سیگنالهای مختلفی را منتشر میکند که در آن قدرت هر کدام از سیگنالها بیانگر روشنایی یا تاریک بودن آن مکان در تصویر هستند. برتری اولیه آن نسبت به SEMهای موجود، بهبود در قدرت تفکیک است.
به طور خاص STEM برای ADF(Annular Dark Field) و EELS(طیف سنجی انرژی تلفشده الکترونها) استفاده میشود. روش تصویربرداری ADF به این دلیل مهم است که عدد اتمی(Z) را نشان میدهد.
در ادامه آشکارسازهای مختلفی که در STEM استفاده میشوند، مورد بررسی قرار میگیرند:
الکترونهای بازگشتی(Scattered Beam Electrons)
در یک نمونهی بالک SEM، الکترونهایی که در اثر برخورد با هسته اتمهای نمونه، تفرق الاستیک پیدا کنند، مستقیما از نمونه باز میگردند و تشکیل سیگنال الکترونهای بازگشتی(Back Scattered Electrons) میدهند. اما در STEM بدلیل ضخامت بسیار نازک نمونه، الکترونهای پس از برخورد به نمونه، از آن عبور کرده و در یک زاویه نسبتا بزرگ تفرق پیدا میکنند این الکترونها توسط یک آشکارساز HADDF(High Angle Annular Dark Field) شناسایی میشوند. همانطور که در بالا اشاره شد، از این الکترونها برای بررسی عدد اتمی(Z) استفاده میشود.
میکروآنالیز پرتو X
الکترونهایی که نمونه را بمبباران میکنند، باعث تولید پرتو X از نمونه میشوند. میکروآنالیز پرتو X از آشکارساز EDX برای شمارش و مشخصهیابی امواج X بر اساس انرژی آنها و همچنین آشکارساز WDX برای شمارش و مشخصه یابی امواج X بر اساس طول موج آنها استفاده میکند.
طیفسنجی انرژی تلفشده الکترونها EELS )Electron Energy Loss Spectrometry)
در این روش مقدار انرژی طلف شده در فعلوانفعالات با نمونه بررسی میشود. این آشکارساز اطلاعاتی در مورد اتم های سطحی، شامل هویت عنصری، پیوندهای شیمیایی، نوار ظرفیت و رسانش، خواص الکترونیکی، خواص سطحی و … بدست میدهد.
در تصویر سمت چپ یک تصویر میدان روشن از نانولههای چند جدارهی کربنی که در جدارههای آنها ید قرارگرفته است مشاهده میشود. تصویر سمت راست آن، تصویر کنتراست عدد اتمی همان نمونه است.
منابع:
https://www.fei.com/introduction-to-electron-microscopy/stem/
z-contrast scanning transmission electron microscopy, S.J.PENNYCOOK AND P.D.NELLIST
بسیاری از ما از زمانی که همه گیری کرونا یا پاندمیک کرونا اعلام شد، تلاش کردیم تا به سرعت خود را با شرایط موجود وفق دهیم. ما باید سریع با همه افرادی که از خانه کار می کنند و یا می آموزند، سازگار میشدیم. پس از آن تابستان آغاز شد و برنامه ها دوباره تغییر […]
مواد شیمایی میتوانند خطرات بالقوه ای برای انسان و محیط زیست داشته باشند. به همین دلیل هم هست که باید در نگهداری آنها موارد مختلفی رعایت شوند تا این خطر به کمترین مقدار خود برسد. در مقاله پیش رو به اقدامات لازم برای نگهداری مواد شیمیایی در آزمایشگاه ها خواهیم پرداخت. شرکت های تولید کننده […]
مکانیکی ها یکی از مشاغلی هستند که استفاده زیادی از دستکش دارند. در این مقاله قصد داریم درباره دستکش کار برای مکانیکی، اطالاعاتی را در اختیارتان بگذاریم. کاربردهای دستکش کار دستکش های کار به طور کلی برای محافظت از دست ها در برابر عوامل مختلفی استفاده می شوند. عوامل آسیب زننده به دست در محیط […]
استاندارد 0.5 مک فارلند برای تخمین کدورت و میزان باکتری معلق در مایعات استفاده میشود. روش تهیه استاندارد مک فارلند از طریق مخلوط کردن کلرید باریوم 1% (BaCl2) و اسید سولفوریک 1% (H2SO4) است. با تنظیم حجم این دو معرف میتوان استانداردهایی با درجات مختلف کدورت تهیه کرد تا چندین غلظت مختلف از باکتری را […]