میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی(میکروسکوپ STEM)، اصول اولیه ی میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی را با یکدیگر ترکیب میکند و میتواند قابلیتی از هر دو نوع میکروسکوپ باشد. مانند TEM، STEM به نمونههای خیلی نازک احتیاج دارد و از الکترونهای عبوری از نمونه استفاده میکند. یکی از برتریهای اصولی آن نسبت به TEM قابلیت استفاده از سیگنالهایی است که TEM توانایی استفاده از آنها را ندارد. مانند: الکترونهای ثانویه، الکترونهای بازگشتی، مشخصه یابی پرتو X و EELS)Electron Energy Loss Spectrometry )
همانند SEM در STEM یک دسته پرتوی متمرکز شده سطح را روبش میکند و فعل و انفعالات بین پرتوهای الکترونی و اتمهای نمونه، سیگنالهای مختلفی را منتشر میکند که در آن قدرت هر کدام از سیگنالها بیانگر روشنایی یا تاریک بودن آن مکان در تصویر هستند. برتری اولیه آن نسبت به SEMهای موجود، بهبود در قدرت تفکیک است.
به طور خاص STEM برای ADF(Annular Dark Field) و EELS(طیف سنجی انرژی تلفشده الکترونها) استفاده میشود. روش تصویربرداری ADF به این دلیل مهم است که عدد اتمی(Z) را نشان میدهد.
در ادامه آشکارسازهای مختلفی که در STEM استفاده میشوند، مورد بررسی قرار میگیرند:
الکترونهای بازگشتی(Scattered Beam Electrons)
در یک نمونهی بالک SEM، الکترونهایی که در اثر برخورد با هسته اتمهای نمونه، تفرق الاستیک پیدا کنند، مستقیما از نمونه باز میگردند و تشکیل سیگنال الکترونهای بازگشتی(Back Scattered Electrons) میدهند. اما در STEM بدلیل ضخامت بسیار نازک نمونه، الکترونهای پس از برخورد به نمونه، از آن عبور کرده و در یک زاویه نسبتا بزرگ تفرق پیدا میکنند این الکترونها توسط یک آشکارساز HADDF(High Angle Annular Dark Field) شناسایی میشوند. همانطور که در بالا اشاره شد، از این الکترونها برای بررسی عدد اتمی(Z) استفاده میشود.
میکروآنالیز پرتو X
الکترونهایی که نمونه را بمبباران میکنند، باعث تولید پرتو X از نمونه میشوند. میکروآنالیز پرتو X از آشکارساز EDX برای شمارش و مشخصهیابی امواج X بر اساس انرژی آنها و همچنین آشکارساز WDX برای شمارش و مشخصه یابی امواج X بر اساس طول موج آنها استفاده میکند.
طیفسنجی انرژی تلفشده الکترونها EELS )Electron Energy Loss Spectrometry)
در این روش مقدار انرژی طلف شده در فعلوانفعالات با نمونه بررسی میشود. این آشکارساز اطلاعاتی در مورد اتم های سطحی، شامل هویت عنصری، پیوندهای شیمیایی، نوار ظرفیت و رسانش، خواص الکترونیکی، خواص سطحی و … بدست میدهد.
در تصویر سمت چپ یک تصویر میدان روشن از نانولههای چند جدارهی کربنی که در جدارههای آنها ید قرارگرفته است مشاهده میشود. تصویر سمت راست آن، تصویر کنتراست عدد اتمی همان نمونه است.
منابع:
https://www.fei.com/introduction-to-electron-microscopy/stem/
z-contrast scanning transmission electron microscopy, S.J.PENNYCOOK AND P.D.NELLIST
اگر تا به حال از خوردن آووکادو لذت برده اید، می دانید که با سایر میوه ها متفاوت است. برخلاف اکثر میوه های دیگر، این میوه سرشار از چربی های سالم است و اغلب برای تولید روغن آووکادو استفاده می شود. اگرچه این روغن به اندازه روغن زیتون شناخته شده نیست، اما به همان اندازه […]
طیف سنجی ارتعاشی روشی است که از طریق بررسی برهم کنش های بین تابش الکترومغناطیسی و ارتعاشات هسته ای، به آنالیز ساختار مولکولها می پردازد. طیف سنجی ارتعاشی کاملاً با روش های طیف سنجی از طریق برهم کنش های بین پرتو ایکس و نمونه ، متفاوت است. طیف سنجی ارتعاشی، در مقایسه با طیف سنجی پرتو […]
طرز تهیه صابون خانگی به عنوان هنر دستی هر فرد نوع پوست خاص خود را دارد و گاه یک محصول بهداشتی از یک برند معتبر هم نمی تواند حال خوبی به پوستمان بدهد. پس چه بهتر که خودتان در خانه، طبق سلیقه شخصی و نیاز پوست، بتوانید صابون دستی بسازید. ساخت و تهیه صابون خانگی […]
میکروسکوپ نوری قطبیده شده (Polarizing Microscope) نور از دو میدان الکتریکی و مغناطیسی عمود بر هم تشکیل شده و بطور سینوسی در حال نوسان میباشند. ارتعاشات میدان الکتریکی نور غیر پلاریزه در یک نقطه در همه جهات میباشد. در اکثر مواد وقتی یک دسته پرتو نوری به آنها وارد شود سرعت انتشار و نحوه انتشار […]