تصویربرداری XPS از ترکیب ها (روش و کاربرد)
تصویربرداری XPS از ترکیب ها طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس و طیف سنجی الکترونی اوژه را همچنین میتوان برای آنالیز توزیع عنصرهای شیمیایی روی سطوح از طریق تولید نقشه های ترکیب، همانند میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده قرار داد. نقشه های ترکیب بیشتر از طریق روبش سطح نمونه با پرتوهای متمرکز به دست میآیند. قدرت تفکیک … ادامه خواندن تصویربرداری XPS از ترکیب ها (روش و کاربرد)
0 دیدگاه