اصول اولیه طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)
اصول اولیه طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس طیف سنجی الکترونی روشی است که از الکترونهای مشخصه منتشر شده از جسم جامد برای آنالیز عنصرها (نه شکل برداری مانند میکروسکوپی الکترونی) استفاده میکند. الکترونهای مشخصه (چه الکترونهای اوژه باشند یا فوتوالکترونها) با داشتن مقدار انرژی مشخص، عنصرهای شیمیایی را در نمونه های مورد آزمایش تشخیص میدهند. … ادامه خواندن اصول اولیه طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس(طیف سنجی XPS)
برای جاسازی نوشته، این نشانی را در سایت وردپرسی خود قرار دهید.
برای جاسازی این نوشته، این کد را در سایت خود قرار دهید.